产品展示
详细说明
方块电阻测试仪是测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜等同类物质的薄层电阻。
该仪器以集成电路为；用基准电源和运算放大器组成稳流源；带回路正常指示电路；并配以LCD显示读数。
特点
1采用集成电路作为仪器的主要部分；
2以LCD显示读数；
3采用单个电池供电，带电池欠压指示；
4体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5手握式探笔，球形探针、镀金探针接触被测材料及保护薄膜
6探头带抗静电模块
技术指标
测量范围
按方块电阻量值大小分为二个量程档：
1.方块电阻 1.00～199.99Ω/□；
2.方块电阻 10.0～1999.9Ω/□；
分辨率：0.01Ω/□
恒流源
测量过程误差：≤±0.8%
模数转换器
量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD显示；过量程均自动显示；小数点同步显示；
测量不确定度
在整个量程范围内，测量不确定度≤5%
四探针探头规格
间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
电源
9V叠层电池1节
