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涂层测厚仪 型号:KM1-LS225库号:M410468
  • 产品名称:涂层测厚仪 型号:KM1-LS225库号:M410468
  • 产品型号:KM1-LS225
  • 所属类别:测厚仪
  • 发布时间:2025-08-20
  • 已获点击:7
详细说明
LS225涂镀层测厚仪由LS225主机和探头组成,目前主机可支持F500铁基探头和N1500、N2000非铁基探头。F500和N1500采用小探头设计,适合于钉子、螺栓等小工件的薄镀层或各种铝材表面、阳极氧化层测量。N2000采用自重触发测量设计,适合测量平面板材的涂层厚度。
探头型号
F500铁基探头
测量原理:磁感应
基体材料:铁磁性金属
测量范围:0.0~500μm
测量间隔:
1.5s(单次模式)
0.4s(连续模式)
分辨率:
0.1μm:(0μm ~ 99.9μm)
1μm:(100μm ~500μm)
重复性:≤±(0.8%H+0.1μm)手压测试机架测试,H为标准值
误差:±(2%H+0.3μm)五点校准,H为标准值
单位:μm / mil
zui小曲率半径:凸面1.5mm,凹面10mm
zui小基体厚度:0.1mm

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