涂层测厚仪/漆膜仪 型号:JK770-LS236
技术参数
显示屏
液晶屏+OLED耐低温屏
主机尺寸
100* 60* 24mm
重量(含电池)
80g
测头
红宝石
涂层测厚仪/漆膜仪 型号:JK770-LS236
测量原理
Fe:霍尔效应/NFe:电涡流效应
探头类型
内置-体式
测量范围
0.0um - 2000μm
0.1μm: (0um-99.9μm)
分辨率
1μm: (100μm- 999μm)
0.01mm: (1.00mm-2.00mm)
测量精度
≤土(39%读数+2μm)
单位.
μm/ mil
测量间隔
0.5S
小测量区域
0=25mm
小曲率半径
凸面: 5mm/凹面: 25mm
小基体厚度
Fe: 0.2mm/NFe: 0.05mm
供电方式
2节1.5V AAA碱性电池
工作温度范围
-20°C~50°C
-40°C~50°C
储存温度范围
-20°C~60°C
-50°C~60°C
涂层测厚仪/漆膜仪 型号:JK770-LS236
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